

在云答疑活動(dòng)中,X射線熒光儀客戶的提問(wèn)相當(dāng)踴躍,為了更好的給予回復(fù),應(yīng)用專家綜合近幾年云答疑的問(wèn)題給出FAQ,我們將根據(jù)問(wèn)題類型分批在【知識(shí)庫(kù)】欄目中推出,敬請(qǐng)XRF用戶持續(xù)關(guān)注!本文我們先盤點(diǎn)部分X射線熒光光譜(XRF)技術(shù)相關(guān)的方法問(wèn)題與應(yīng)用專家的答案一起為您放送,對(duì)于一些知識(shí)點(diǎn)類的問(wèn)題,我們還將單獨(dú)成文,希望可以幫助您優(yōu)化儀器使用,進(jìn)一步提高您的XRF的利用率。
XRF系列產(chǎn)品
方法相關(guān)FAQ
01
問(wèn)
什么時(shí)候用歸一化,什么時(shí)候不用歸一化?
答
歸不歸一,取決于該方法是否測(cè)量了樣品中所有的元素,樣品中是否有熒光測(cè)不了的暗基體(O以前的輕元素及燒失量)。
問(wèn)
用硼酸做助磨劑壓片,歸一化前總質(zhì)量分?jǐn)?shù)為50%左右,代表近50%是B、C、N、O或燒失嗎?
答
如果把整個(gè)壓片當(dāng)作一個(gè)樣品,如果歸一化前總質(zhì)量分?jǐn)?shù)為50%左右,那么可以認(rèn)為有近50%的組分是熒光測(cè)不了的暗基體。
問(wèn)
如重新建立半定量分析方法,有哪些注意事項(xiàng)?
答
要有Omnian校準(zhǔn)標(biāo)樣,如果隨主機(jī)沒(méi)有購(gòu)買,可考慮從馬爾文帕納科借用;
新建掃描程序時(shí),不要使用默認(rèn)的160mA,建議將最大電流設(shè)成100mA,以防日后因高壓發(fā)生器問(wèn)題,高電流切換不上去。
問(wèn)
建立新工作曲線后,如何設(shè)定儀器監(jiān)控和曲線監(jiān)控?
答
儀器監(jiān)控可使用非相似樣品,只要樣品化學(xué)性質(zhì)及物理性質(zhì)穩(wěn)定,且有較高X射線計(jì)數(shù)率即可,測(cè)量時(shí)間的長(zhǎng)短應(yīng)保證該通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差足夠小。曲線監(jiān)控必須使用濃度較高的校準(zhǔn)標(biāo)樣或者分析試樣,測(cè)量時(shí)間的長(zhǎng)短同樣應(yīng)保證該通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差足夠小,當(dāng)樣品制備的條件發(fā)生變化時(shí),曲線監(jiān)控樣品要重新制備,然后作曲線監(jiān)控測(cè)量。二者測(cè)量是有先后順序的,應(yīng)先測(cè)量?jī)x器監(jiān)控,后測(cè)量曲線監(jiān)控。
問(wèn)
有時(shí)候XRF的檢測(cè)結(jié)果與ICP的檢測(cè)結(jié)果偏差較大,如何調(diào)整?
答
如果需要以ICP的分析結(jié)果為準(zhǔn),可采取下述方法:
調(diào)整X熒光工作曲線的D值
調(diào)整X熒光校準(zhǔn)標(biāo)樣的濃度值,然后重新計(jì)算工作曲線
問(wèn)
SuperQ6的Gamma系數(shù)的設(shè)置和以前的版本區(qū)別較大,新版本的設(shè)置有什么規(guī)則嗎?Zetium中基體校正參數(shù)Gamma如何設(shè)置使用?
答
新老版面只是界面上發(fā)生了變化,但使用方法還是一樣的。Gamma校正通常用于高合金元素的基體校正,它也是一種經(jīng)驗(yàn)系數(shù)。選擇影響元素時(shí),應(yīng)在幾個(gè)高合金元素之間選擇,但不要同時(shí)選自身。
問(wèn)
檢測(cè)校準(zhǔn)曲線的時(shí)候,根據(jù)什么標(biāo)準(zhǔn)判斷曲線的線性良好?
答
可通過(guò) RMS來(lái)評(píng)價(jià)曲線的回歸精度,值越小表明精度越高,但不能校正到0。
問(wèn)
有沒(méi)有曲線建立中PHD的LL和UL的選擇技巧?
答
窗口的寬度通常設(shè)為半高寬的3倍左右,在沒(méi)有逃逸峰的情況下,LL和UL可設(shè)成對(duì)稱的(加和為100),如果有逃逸峰(K以后的元素都有),從V 元素開(kāi)始LL應(yīng)包含逃逸峰。
問(wèn)
RMS的上限有無(wú)固定值?超過(guò)多少就不能滿足分析要求?
答
RMS是所有校準(zhǔn)標(biāo)樣的熒光擬合值跟化學(xué)值統(tǒng)計(jì)出來(lái)的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)偏差,它沒(méi)有上限,通常RMS小于標(biāo)樣極差的1/2倍即可滿足要求。
問(wèn)
怎樣設(shè)置instrument monitor和Calibration Update?
答
儀器監(jiān)控可使用非相似樣品,只要樣品化學(xué)性質(zhì)及物理性質(zhì)穩(wěn)定,且有較高X射線計(jì)數(shù)率即可,測(cè)量時(shí)間的長(zhǎng)短應(yīng)保證該通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差足夠小。曲線監(jiān)控必須使用濃度較高的校準(zhǔn)標(biāo)樣或者分析試樣,測(cè)量時(shí)間的長(zhǎng)短同樣應(yīng)保證該通道的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差足夠小,當(dāng)樣品制備的條件發(fā)生變化時(shí),曲線監(jiān)控樣品要重新制備,然后作曲線監(jiān)控測(cè)量。二者測(cè)量是有先后順序的,應(yīng)先測(cè)量?jī)x器監(jiān)控,后測(cè)量曲線監(jiān)控。
問(wèn)
回歸計(jì)算中曲線斜率為負(fù)數(shù),如何調(diào)整?
答
這通常出現(xiàn)在校準(zhǔn)標(biāo)樣的濃度值沒(méi)有梯度的情況下,可輸入一個(gè)固定的D值并鎖定,再重新計(jì)算。
問(wèn)
采用光譜純的二氧化鈦和其他含有被測(cè)元素的溶液混合烘干的方法來(lái)自制標(biāo)樣,這種方法是否可行?如果可行,制備過(guò)程中有哪些注意事項(xiàng)?元素含量與氧化物含量之間又如何換算?
答
這種方法可行;
換算元素濃度,應(yīng)以干基的質(zhì)量(溶質(zhì),并且換算成氧化物)進(jìn)行換算;
溶液中元素是以離子的形式存在的,換算時(shí)要轉(zhuǎn)換成氧化物 。
問(wèn)
輸入燒失量和不輸入燒失量沒(méi)有差別?
答
是否輸入燒失量跟采用什么樣的基體校正方式有關(guān),如果采用FP法或理論α系數(shù)法,必須考慮燒失量的影響。如果采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法則不需要輸入燒失量。