半定量分析過(guò)程人造石墨負(fù)極材料的石墨化度測(cè)試過(guò)程中，如何減小平行樣的差值？

混合標(biāo)樣時(shí)要足夠均勻，固定制樣-測(cè)量-分析流程，可選用Pearson VII函數(shù)+拆分峰寬做峰形擬合。

無(wú)背景硅片在使用一段時(shí)間后，上面可能會(huì)有磨損，也會(huì)有硅的話，這個(gè)你們通常怎么解決？是重新買新的嗎？

防止無(wú)背景硅片磨損——樣品充分研磨，避免過(guò)硬樣品劃傷，清潔時(shí)注意方式；如已出現(xiàn)干擾峰——更換新的無(wú)背景硅片。

隨著儀器光管的使用時(shí)間增長(zhǎng)，強(qiáng)度會(huì)下降，這樣和不同時(shí)間的樣品進(jìn)行對(duì)比的話，請(qǐng)問(wèn)怎么能解決這個(gè)強(qiáng)度一致的問(wèn)題？通過(guò)標(biāo)樣校正來(lái)解決嗎？

X射線管（光管）本身是耗材，會(huì)隨著使用強(qiáng)度降低，是正常情況；強(qiáng)度可通過(guò)標(biāo)樣校正，分析時(shí)乘上校正系數(shù)；需保證標(biāo)樣在良好環(huán)境下儲(chǔ)存，測(cè)試方法和硬件配置固定（如果使用粉末標(biāo)樣避免重新制樣）。有必要時(shí)更換新X射線管（光管）。

使用多晶的XRD如何測(cè)特別少量的樣品？

使用無(wú)背景硅片+樣品測(cè)試時(shí)旋轉(zhuǎn)；有條件時(shí)采用聚焦光鏡+毛細(xì)管透射。

軟件中的信噪比是如何計(jì)算的？打印圖譜后自行量取長(zhǎng)度再計(jì)算是否合理？

信噪比SNR=凈最大信號(hào)強(qiáng)度/噪音σ，σ=背景強(qiáng)度的平方根（根據(jù)XRD數(shù)據(jù)符合泊松分布得到）。如需打印圖譜后自行量取，請(qǐng)注意量取誤差。

樣品噪聲波動(dòng)大時(shí)應(yīng)該怎樣調(diào)整硬件參數(shù)？

噪聲波動(dòng)大，通常原因是強(qiáng)度不夠?？裳娱L(zhǎng)每步積分時(shí)間，使用更大的狹縫/遮光板。

XRD儀器需要一直保持開(kāi)機(jī)狀態(tài)嗎？

避免頻繁開(kāi)關(guān)機(jī)/開(kāi)關(guān)高壓或長(zhǎng)時(shí)間關(guān)機(jī)不使用。根據(jù)使用頻率，可選擇每天、周末或假期關(guān)機(jī)。具體可點(diǎn)擊如下微信推文：

MP工具箱 | X射線衍射儀假期維護(hù)注意事項(xiàng)

不同品牌儀器參數(shù)如何轉(zhuǎn)化？

使用儀器適合的電流電壓，根據(jù)樣品選擇合適的光路模塊和狹縫；測(cè)量參數(shù)：步長(zhǎng)設(shè)置為基本一致即可，計(jì)算測(cè)量總時(shí)間，然后設(shè)置測(cè)量參數(shù)至總時(shí)間基本相同。

在批處理測(cè)試的中途，彈出“Exception has been thrown by the target of an invocation." 或使用過(guò)程中報(bào)錯(cuò)。