
引言
十二烷基*(SDS,Sodium Dodecyl Sulfate)在電鍍工藝中主要作為表面活性劑使用,其作用主要包括:
潤濕劑:SDS能顯著降低電解液的表面張力,使鍍液更容易均勻覆蓋在金屬基體表面,減少孔隙或漏鍍現(xiàn)象。
分散劑:SDS的膠束結(jié)構(gòu)能分散電解液中的金屬離子或添加劑,防止局部濃度過高,幫助形成更致密、平整的鍍層。
增溶劑:在含有有機(jī)添加劑(如光亮劑、整平劑)的鍍液中,SDS可增溶疏水性物質(zhì),提高其在水相中的分散性,增強(qiáng)添加劑效果。
但過量SDS可能導(dǎo)致泡沫過多(需添加消泡劑)或影響鍍液導(dǎo)電性。并且確保需與主鹽、pH調(diào)節(jié)劑等兼容,避免沉淀或失效。由此,在多層鍍膜工件加工過程中,前一層十二烷基*殘留量將對后一層涂鍍效果產(chǎn)生顯著影響。由此對于殘留SDS總量與分布測定的關(guān)鍵性不言而喻。
本實驗采用微區(qū)能譜法結(jié)合無標(biāo)定量分析對工件表面殘余SDS進(jìn)行測定。
實驗方法
樣品為三件金屬工件,尺寸為2.47*5.6mm。為保護(hù)樣品信息,全程使用鑷子夾取。
分析設(shè)備為馬爾文帕納科 Zetium X射線熒光光譜儀。該型設(shè)備內(nèi)整合了高分辨相機(jī)、能譜分析核與步進(jìn)電機(jī)。
通過高清相機(jī)對設(shè)備表面進(jìn)行攝影,供使用者選出測定點(diǎn)位;通過衰減片將光管光斑控制為直徑0.5mm尺寸,確保激發(fā)位置精確。 通過光學(xué)部件與樣品的緊密耦合(即光管、探測器非常接近樣品),同步多元素數(shù)據(jù)采集。電機(jī)步進(jìn)為0.1mm,保障定位精準(zhǔn)。
Zetium光譜儀搭載SuperQ軟件,提供自動解譜、背景擬合、含量校準(zhǔn)計算功能。并內(nèi)置基于于FP的無標(biāo)樣分析軟件Omnian,對未知樣品進(jìn)行準(zhǔn)確定量 ??蛻魞H需檢查選定元素種類即可獲得高可信度數(shù)據(jù)。
通過螺絲將樣品固定在特制樣品杯中,頂部使用塑料膜壓緊固定。通過相機(jī)拍照如下:

1號樣品

2號樣品

3號樣品
圖1. 樣品固定在特制樣品杯中
測試條件如下:
X射線管功率為60kV/66mA;無需濾光片,使用SSM-高分辨衰減器,高分辨DSP模式,Omnian無標(biāo)定量軟件。
選擇測量點(diǎn)位情況如下圖所示:

1號樣品

2號樣品

3號樣品
圖2. 樣品表面測量點(diǎn)位

Zetium
X射線熒光光譜儀

Zetium X射線熒光光譜儀具有創(chuàng)新的元素分析方法,SumXcore(即多核X射線分析技術(shù))將波譜核和能譜核組合在一個平臺上并行運(yùn)行。提供優(yōu)異的靈活性、高性能和多功能性。主要規(guī)格:
Na-Am的元素范圍
ppm-100%的濃度范圍
為X射線高通量環(huán)境專門構(gòu)建的SDD探測器
可變信號衰減器,以實現(xiàn)優(yōu)化性能靈活性
高達(dá)1Mcps的高計數(shù)率能力
微小區(qū)域分析和Mapping
最大樣品直徑35mm
0.5mm的光斑區(qū)域
步進(jìn)為100μm
照相機(jī)和創(chuàng)新的樣品定位機(jī)制
專門設(shè)計用于各種不同尺寸不規(guī)則形狀樣品的支架
結(jié)果與討論
殘余物質(zhì)(十二烷基*)可供測試元素包括碳、鈉、硫,其中碳元素?zé)晒猱a(chǎn)額極低,無法使用能譜核探測;鈉元素信號峰與基地材質(zhì)Zn的L線能量接近會受到強(qiáng)烈干擾;故本次使用硫元素含量計算SO3含量,代表十二烷基*分布。三枚工件SO3分布如下:

圖3. 1號樣品SO3含量分布三維圖

圖4. 2號樣品SO3含量分布三維圖

圖5. 3號樣品SO3含量分布三維圖
結(jié)
論
Conclusion
上述實驗證明,Zetium光譜儀可通過能譜核測試硫元素,識別工件各部位十二烷基*的殘留情況;通過原位定點(diǎn)測試,可以直觀地反映各部位殘留差異。XRF分析技術(shù)不需復(fù)雜制樣,可對原樣直接分析,簡化分析步驟,降低了人工操作的干擾,提高分析效率。