
引言
鈣鈦礦太陽能電池的性能穩(wěn)定性一直是個(gè)難題,其中一個(gè)關(guān)鍵因素就是材料中的應(yīng)力,殘余應(yīng)力不僅會降低了材料的穩(wěn)定性,還會加速鈣鈦礦的降解。鈣鈦礦薄膜的宏觀殘余應(yīng)力主要是由鈣鈦礦與基底材料的晶格和熱膨脹系數(shù)不匹配造成的,相變造成的晶格參數(shù)變化、制備工藝中的退火等步驟也是產(chǎn)生或加劇鈣鈦礦薄膜殘余應(yīng)力的常見因素。
如何優(yōu)化制備工藝以調(diào)控鈣鈦礦薄膜的殘余應(yīng)力是當(dāng)前鈣鈦礦太陽能電池研究中的熱點(diǎn)問題。
優(yōu)化工藝的過程需要對鈣鈦礦薄膜的殘余應(yīng)力有清晰準(zhǔn)確的判斷,需要快速且可靠的分析技術(shù),為制備工藝的優(yōu)化提供關(guān)鍵指導(dǎo)意見。
X射線衍射法
如圖1示意,存在殘余應(yīng)力的樣品,在宏觀應(yīng)力σφ的作用下,不同晶粒中不同傾轉(zhuǎn)角ψ的同一hkl晶面應(yīng)變量不同,則晶面間距的變化量不同,峰位會發(fā)生變化。X射線衍射法作為晶體結(jié)構(gòu)分析的標(biāo)準(zhǔn)手段,是無損檢測材料殘余應(yīng)力的主要方法,其特點(diǎn)是無損、快速、具有方向性。測量同一晶面多個(gè)傾轉(zhuǎn)角度的峰位,做dψ-sin2ψ圖,由該直線的斜率及材料的楊氏模量和泊松比即可計(jì)算得到應(yīng)力值σ;斜率為正值表示拉應(yīng)力,斜率為負(fù)值表示壓應(yīng)力。


圖1 拉應(yīng)力下晶面間距變化與傾轉(zhuǎn)角關(guān)系示意圖(上),以及對應(yīng)的d-sin2ψ示意圖(下)

Empyrean 銳影
X射線衍射儀

第三代Empyrean銳影多功能X射線衍射儀,線焦斑配合平行光鏡(Parallel Beam Mirror)提供高強(qiáng)度平行光,適用于薄膜樣品的掠入射物相、多hkl法應(yīng)力測試以及常規(guī)塊體應(yīng)力測試。
實(shí)驗(yàn)方法
本文中我們對5個(gè)同種微米級的厚鈣鈦礦薄膜樣品進(jìn)行殘余應(yīng)力測試,樣品大小約為2cm*2cm,對樣品進(jìn)行掠入射與對稱掃描后發(fā)現(xiàn),由于鈣鈦礦薄膜具有一定的厚度,對于2θ=45°以下的強(qiáng)峰,掠入射與對稱掃描的峰強(qiáng)度差異不大,傳統(tǒng)塊體應(yīng)力測試方法適用于該系列樣品。

圖2. 5個(gè)鈣鈦礦樣品的全譜掃描數(shù)據(jù),可見鈣鈦礦結(jié)構(gòu)強(qiáng)衍射峰集中在45°以下的較低角度
鈣鈦礦結(jié)構(gòu)在高角度沒有強(qiáng)峰,使用側(cè)傾法(傾轉(zhuǎn)角ψ為Chi軸)進(jìn)行應(yīng)力測試能測試到更高的ψ角范圍;由于Chi軸傾轉(zhuǎn)會使樣品測試面出現(xiàn)高度差,為避免聚焦光路下樣品高度差帶來嚴(yán)重散焦,需要使用平行光路;同時(shí)考慮到兼顧樣品要進(jìn)行掠入射物相分析不切換光路的需求且樣品具有較大面積,本實(shí)驗(yàn)中我們采用入射光路平行光鏡+衍射光路平板準(zhǔn)直器(PPC)的光路配置。


圖3. 傳統(tǒng)塊體應(yīng)力測試中的兩種傾轉(zhuǎn)方式:同傾法(上)與側(cè)傾法(下)
具體測試條件:選取28°左右的ABX3結(jié)構(gòu)020晶面衍射峰,掃描范圍26°-30°,步長0.05°,傾轉(zhuǎn)角ψ范圍0°-65°, sin2ψ步長0.1,每個(gè)樣品共9個(gè)掃描,總時(shí)間37分鐘。
結(jié)果與討論

圖4:1號樣品不同傾轉(zhuǎn)角ψ下的的掃描數(shù)據(jù)(上)以及sin2ψ-d(下)
上圖是1號樣品不同傾轉(zhuǎn)角ψ下的的掃描數(shù)據(jù)以及d-sin2ψ圖,由掃描數(shù)據(jù)可見隨著傾轉(zhuǎn)角ψ增大,衍射峰位置有向高角度偏移(晶面間距d被壓縮)的趨勢,對應(yīng)樣品存在壓應(yīng)力。d-sin2ψ圖斜率為負(fù)值同時(shí)說明了這一點(diǎn),代入該鈣鈦礦薄膜的楊氏模量和泊松比數(shù)據(jù)后,可得該鈣鈦礦薄膜存在約-17.9Mpa的壓應(yīng)力。
以同樣的分析流程分析全部5個(gè)樣品,5個(gè)樣品的d-sin2ψ圖斜率(單位:ppm),以及殘余應(yīng)力值(單位:MPa)如下表所示。

根據(jù)測試數(shù)據(jù)不同傾轉(zhuǎn)角下的d-sin2ψ線型圖負(fù)斜率,樣品1-5均存在一定的壓應(yīng)力,但壓應(yīng)力的數(shù)值大小不同,反映了鈣鈦礦薄膜制備過程中的工藝參數(shù)對成品殘余應(yīng)力的影響。
本案例中鈣鈦礦薄膜的楊氏模量及泊松比已知,故計(jì)算可得具體的應(yīng)力值。對于鈣鈦礦薄膜的楊氏模量和泊松比未知的情況,同類樣品的力學(xué)參數(shù)相同或相近,斜率的大小可以反映不同樣品殘余應(yīng)力大小的變化趨勢。
針對不同樣品的殘余應(yīng)力測試,馬爾文帕納科Empyrean銳影還可提供更多方案供用戶選擇,咨詢:400 630 4902 。
結(jié)
論
Conclusion
通過以上樣品的實(shí)際測試案例,表明Empyrean銳影XRD在鈣鈦礦薄膜殘余應(yīng)力分析中的應(yīng)用價(jià)值,用戶可通過實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的無損檢測快速了解不同工藝參數(shù)下制備的鈣鈦礦薄膜的殘余應(yīng)力大小和方向,從而為制備工藝的優(yōu)化提供關(guān)鍵的指導(dǎo)意見。